![](https://static.wixstatic.com/media/c2e1b6_833487bd2c96426aa7d9457c97146cab~mv2.jpg/v1/fill/w_1500,h_939,al_c,q_85,enc_auto/c2e1b6_833487bd2c96426aa7d9457c97146cab~mv2.jpg)
Экспериментальное оборудование
![](https://static.wixstatic.com/media/c2e1b6_a9c4221cdbd34fdab3fc48668e28f9ac~mv2_d_3887_3104_s_4_2.jpg/v1/fill/w_422,h_335,al_c,q_80,usm_0.66_1.00_0.01,enc_auto/c2e1b6_a9c4221cdbd34fdab3fc48668e28f9ac~mv2_d_3887_3104_s_4_2.jpg)
Основными методиками исследования лаборатории химической физики наноструктур являются зондовые методы:
1. сканирующая туннельная микроскопия и спектроскопия (СТМ/СТС);
2. атомно-силовая микроскопия (АСМ).
Основой методики СТМ/СТС является измерение туннельного тока, возникающего между металлической иглой (зондом) и проводящим образцом и построение топографии поверхности образца на основе полученных данных (микроскопия) и снятие вольтамперных характеристик туннельного контакта локальной области образца под иглой (спектроскопия). Благодаря явлению туннелирования эта методика обладает рядом преимуществ:
1. возможность получения атомного разрешения;
2. исследование локальных свойств образца;
3. нанолитография.
Однако метод СТМ/СТС также имеет некоторые ограничения:
1. возможность исследования только проводящих образцов;
2. необходимость сверхвысокого вакуума;
3. невозможность получения данных об элементном составе образца.
![](https://static.wixstatic.com/media/c2e1b6_0421ab44f45b480f9ac1974870765751~mv2.png/v1/fill/w_473,h_392,al_c,lg_1,q_85,enc_auto/c2e1b6_0421ab44f45b480f9ac1974870765751~mv2.png)
Сканирующий туннельный микроскоп
Тестирование иглы для получения атомного разрешения на примере высокоориентированной поверхности графита
![](https://static.wixstatic.com/media/c2e1b6_a42b5661153740ee8f97cd9efecb58d9~mv2_d_2304_3072_s_2.jpg/v1/fill/w_422,h_565,al_c,q_80,usm_0.66_1.00_0.01,enc_auto/c2e1b6_a42b5661153740ee8f97cd9efecb58d9~mv2_d_2304_3072_s_2.jpg)
Атомно-силовой микроскоп
Принцип работы АСМ основан на регистрации силового взаимодействия между образцом и специальным зондом - кантилевером. АСМ обладает худшим разрешением по сравнению с СТМ, однако позволяет работать и с непроводящими образцами. Кроме того, наличие сверхвысоковакуумной техники также необязательно. Нельзя не отметить некоторые сложности измерения топографии образца в бесконтактном режиме и вероятность повреждения исследуемой поверхности в контактном режиме.
![](https://static.wixstatic.com/media/c2e1b6_4d0eb809ef234039be40b669f3ba9e4a~mv2_d_3072_2304_s_2.jpg/v1/fill/w_473,h_355,al_c,q_80,usm_0.66_1.00_0.01,enc_auto/c2e1b6_4d0eb809ef234039be40b669f3ba9e4a~mv2_d_3072_2304_s_2.jpg)
Также в ходе экспериментов в лабора-тории был создан ряд новых экспери-ментальных методов - "нанолаборатория", сканирующая туннельная кинетическая микроскопия и сканирующая туннельная резонансная микроскопия, которые позволяют синтезировать и модифицировать единичные поверхностные нанокластеры и тонкие пленки оксидов и исследовать их физико-химические характеристики.
Измерительная головка атомно-силового микроскопа